能吃苦的年纪，吃苦并不是什么坏事

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原始电池的X射线CT图像如图2a所示，苦的苦并短路后的电池如图2b所示。在当前的实验参数下，坏事使用自旋回波采集方案，可以在~11.5小时内获得完整的T2图（5个回波增量）。

该裂纹填充了一种假定为Na的金属材料，吃年纪然而，吃年纪这一点并未得到确定，因为尽管枝晶区域有微弱的Na信号，但响应主要由强C信号控制，这可能是由于不定碳物种与高活性和新暴露的Na表面的反应。在短路电池中观察到剥落形态的枝晶形成，苦的苦并这与23Na的MRI表现一致。本内容为作者独立观点，坏事不代表材料人网立场。

层析成像图像的像素大小为4.66μm，吃年纪电解质内未观察到枝晶或裂纹的明显迹象。同样地，苦的苦并观察到的贯穿电解质长度的枝晶的缺失与MRI结果一致，并表明焦耳加热烧毁了树突。

MRI通过使用对比度驱动序列来规避这个问题，坏事这种序列可以隔离感兴趣的区域，因此，不需要这样高分辨率的图像。

图3a显示了短路后电池的T2加权效果，吃年纪图3c显示了短路后电池的T2直方图，图3b和3d给出了它们各自的T2直方图。基于趋势和技术积累所构成的闭环，苦的苦并英特尔聚焦了8个技术领域，明年将着重在这些方面施展发力。

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